SmartLab GuidanceTMソフトウェアで、各アプリケーションに最適な光学系ユニットの選択から、測定条件の設定・実行までの測定シーケンスを自動的に設定可能。試料水平保持方式であるため、粉末試料の脱落がなく、薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができる。高速1次元X線検出器を搭載しているので、高係数率・高エネルギー・低ノイズのデータが取得できる。粉末測定、簡易薄膜測定、微小部測定に対応している。X線解析ソフト(PDXL)及びICDD (International Center for Diffraction Data) データベース付属。
[最大定格出力] 45 kV-60 mA
[検出器] 高速1次元検出器、SC検出器